Typical applications: Suitable for headphone cables, USB cables, multi-core cables, communication cables, flat cables, and signal cables for bending resistance tests. The test method is: the motor is installed vertically, one end of the cable is clamped on the motor rotating fixture, and the other end is hung with a weight (load) to rotate left and right to evaluate whether the cable is conductive after N tests.
- 더블 스테이션 설계: 테스트 공간의 효율적인 사용을 위한 독립적인 제어.
- 투명 보호 커버: 향상된 안전성을 보장하면서 쉽게 모니터링할 수 있습니다.
- 고급 제어 시스템: 정확한 프로그램 제어 및 실시간 테스트 데이터 표시를 위한 OMRON® 터치 스크린과 MITSUBISHI® PLC가 특징입니다.
- 신뢰할 수 있는 모터 및 기어 드라이브: Panasonic® AC 서보 모터 및 SHIMPO® 유성 기어로 구동되어 정확하고 내구성이 있으며 소음이 적은 작동이 가능합니다.
- 정확한 테스트 각도 : 반복성과 높은 위치 정확도로 조정 가능한 ±720 ° 회전.
- 6개의 독립적인 테스트 스테이션: 각각 Panasonic® AC 서보 모터로 구동되어 고정밀, 저소음 및 오래 지속되는 성능을 보장합니다.
- 고급 제어: OMRON® 컬러 터치스크린과 Mitsubishi® PLC를 갖추고 있어 설정 및 작동이 간편하며 영어와 중국어 인터페이스를 모두 지원합니다.
- 도체 테스트: 최대 4개의 코어를 동시에 모니터링할 수 있으며, 조정 가능한 도체 테스트 옵션과 신호 차단 감지 시 자동 정지 및 경보(1ms 이내)를 제공합니다.
- 사용자 정의 가능한 테스트 매개변수: 터치스크린 인터페이스를 통해 테스트 각도, 속도, 카운트 및 체류 시간을 조정할 수 있습니다.
- 내구성 있는 구성 요소: 정확한 움직임과 신뢰성을 위해 Shimpo® 유성 감속기와 같은 고품질 구성 요소를 사용합니다.
고온 및 저온 배터리 압출 시험기 RS-6006A-GDW는 고온 및 저온 환경에서 배터리 압출 시험을 시뮬레이션하도록 설계되었습니다.
시험 표준
GB 31241-2014, GB/T8897.4-2008, YD/T 2344.1-2011, GB/T 21966-2008, MT/T 1051-2007, YD 1268-2003, GB/T 19521.11-2005, YDB 032-2009, UL1642, UL 2054, IEC62281, IEC 60086 IEC62133 UN38.3 테스트 표준. IEC62281, IEC 60086 IEC62133 UN38.3 및 기타 테스트 표준.
신청
탄 주머니 충격 시험기는 "GB/T9962-1999 건축 안전 유리 물자 - 안전 유리 성능 명세 및 시험 방법"에 따라 "6.11 Kasumi 부대 충격 방법"에 따라 디자인됩니다, 박판으로 만들어진 유리 충격 시험 필요조건의 건축적 안전을 만나기 위하여.
테스트 표준
ANSIZ97.1, ISO/DIS125421~12543-6:1997, AS/NZS2208:1996, GB/T9962-1999
커넥터 인서트 및 추출물 수명 시험기 RS-8115A-5L은 휴대폰, 태블릿, 전자책, 전자 사전 등과 같은 가전 제품에 사용되는 다양한 커넥터에 대한 삽입 및 추출 수명 테스트를 수행하도록 설계되었습니다. 이러한 커넥터에는 충전 어댑터, 충전 케이블, 헤드폰 케이블, 데이터 케이블 및 기타 유형의 커넥터가 포함됩니다.
고온 및 저온 자동 토크 시험기 RS-6300G-HLT는 고온 및 저온 환경에서 접이식 스크린 휴대폰 기계, PI 플렉시블 스크린, 암모늄 체인 메커니즘, UTG 모듈, FPC 등의 비틀림 테스트 및 수명 테스트를 위해 설계되었습니다.
In addition to testing the adaptability and the characteristics of the product had been changed under the general conditions of temperature and humidity combination (High-low temperature & storage, temperature cycling, high temperature and high humidity or moisture condensation test) by simulatable products, low humidity and constant temperature-humidity test chamber can also test whether the crazing and breakage of the product would happen under the conditions of low temperature and low humidity, high temperature and low humidity, high temperature and high humidity, low temperature and high humidity. Further more, the static content in air under the low humidity condition is many time more than the general condition, and it is said that most damage of the electronic components is caused by static.
Meeting the requirements of international specification test (IEC, JIS. JB, MIL...) to ensure the consistency of international measurement programs (including testing procedures, conditions and methods) to avoid cognitive differences and reduces the measurement uncertainties.
High and low temperature test chamber applying to electrical engineering, electronic products, components and the adaptive test of materials during storage, transportation and use in high and low temperature.
