전자 제품 신뢰성 시험기
주요 기능
- Advanced Motion Control: 정확한 궤적을 위한 다축 모션 컨트롤러 및 단일 칩 측정 제어.
- 고정밀 테스트 : 하중 분해능 0.01gf, 정확도 ±0.2 % FS
- 다양한 응용 분야: 다점 홀딩, 3점 및 4점 굽힘 시험에 적합합니다.
- 효율적인 자동화: 자동으로 데이터를 수집하고, 곡선을 생성하고, 결과를 평가합니다(PASSED/FAIL).
- 유연한 테스트 범위: Z축 이동 최대 150mm, X-Y 축 이동 최대 300mm.
목적: 이 기계는 헤드폰, 휴대폰, 태블릿, 전자책, 전자 사전 등의 버튼을 테스트하는 데 적합합니다. 또한 전자 제품의 다양한 전도성 고무 버튼, 금속 파편 버튼, 원격 제어 버튼 등의 내충격성 및 수명을 테스트하는 데 적합합니다.
이 기계는 휴대폰, 태블릿 컴퓨터, 전자 사전, 전자 책, 충전기, 자동차 도어 잠금 장치, 회전축 및 기타 제품이 토크 테스트를 수행하도록 설계되었습니다.
The Connector Side Force Tester is designed for USB holders, headphone holders, charger plugs to do the front, back, left and right lateral force test of the cell phones, pad,PC, electronic dictionaries and other portable mobile devices.
The Plugging Insertion Extraction Force Life Testing Machine is designed for cell phones, tablet PCs,e-books,electronic dictionaries and other consumer electronic products with various connectors,such as chargers, charging cables, headphone cables, data cables,etc.
스핀들 내구성 비틀림 시험기 RS-6300A II는 LCD 커버를 반복적으로 열고 닫은 후에도 노트북, 휴대용 DVD, 전자 사전 및 GPS 네비게이션 시스템의 힌지 강도가 손상되지 않았는지 확인하기 위해 설계되었습니다. 플라스틱 본체에 해를 끼칠 수 있는 힌지 저항의 증가를 감지합니다.
RS-DP-04-2D 마이크로 낙하 테스터는 휴대폰, 태블릿, 전자 리더기, 충전기 등과 같은 소형 전자 소비자 제품을 테스트하도록 설계되었습니다. 이 장치는 제품을 탁상이나 유사한 표면에 떨어뜨리는 것과 같이 일상적인 사용 중에 발생하는 경미한 낙하를 시뮬레이션하여 외부 쉘의 내구성과 내부 구조의 충격 저항을 평가합니다.
Designed for the small torque tests of products, including TWS headset charging box spindles, smartwatch knobs, cellphone spindles (HINGE), NOTEBOOKs and HINGEs for torque attenuation and life tests. It is even capable of measuring ammonium chain torque tests for products like glasses cases and folding screen cell phones, displaying torque values for each positive and negative rotation.
Designed for various capacitive and infrared touch screen modules ( mobile phones, tablets, e-books, electronic dictionaries, etc.) and is capable of conducting click and scratch tests.For precision testing, jitter testing, linearity testing, sensitivity testing, long-duration scratch testing, and long-duration click testing of capacitive screens.