>Product Overview
< strong data-start="253" data-end="306">ITM-LAB DHG 시리즈 고온 노화 챔버는 전자 제품, 전원 공급, PCB 조립체 및 자동차 전자기기의 번인, 열 노화 및 신뢰성 시험을 위해 설계되었습니다.
전동 번인 테스트의 주요 과제는 DUT가 자체적으로 열을 발생한다는 점입니다. DHG 시리즈는 최대 750W의 내부 DUT 열 부하가 적용되는 응용 분야에 맞게 설계되어, 제품이 챔버 내에서 계속 작동하는 동안 제어된 열 환경을 유지하는 데 도움을 줍니다.
1400 L 및 2520 L 구성으로 제공되며, RT+10°C에서 150°C까지의 온도 범위를 제공하며, 다중 제품 및 랙 기반 노화 테스트를 위한 넓은 작업 공간을 제공합니다.
RT+10–150°C | 1400 / 2520 L | 최대 750W DUT 열 부하 | ≥5°C/분에서 80°C
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빈 챔버 온도 테스트 이상의 용도로 제작됨
무부하 조건에서의 온도 성능은 전체 이야기의 일부에 불과합니다.
번인 테스트 중, 전원 공급 장치, PCBA 및 기타 전원 전자장치는 계속해서 열을 챔버에 방출할 수 있습니다. DUT 양과 전력 소비가 증가함에 따라 이 추가 열 부하가 공기 흐름, 온도 분포 및 시료 주변 실제 환경에 영향을 미칠 수 있습니다.
DHG 시리즈는 이러한 유형의 <강한 data-start="1555" data-end="1589">구동 DUT 노화 응용을 중심으로 설계되었으며, 부하 없이도 <강한 data-start="1659" data-end="1687">750W 내부 열 부하 모두에서 지정된 온도 성능을 제공합니다.
왜 DUT 열 부하가 중요한
가요빈 챔버는 주로 자신의 난방 시스템과 주변 환경에서 발생하는 열을 제어합니다. 전원 전자장치를 포함하는 번인 챔버에는 또 다른 변수를 관리해야 합니다: <강한 데이터-시작="2351" 데이터-종료="2392">DUT에서 발생하는 열.
예를 들어:
CHAMBER HEATING
+
HEAT FROM POWERED DUT
↓
TOTAL THERMAL LOAD
↓
공기 순환 + 배기 + 온도 제어
↓
ACTUAL DUT ENVIRONMENT
이 때문에 DHG 시리즈는 무부하 상태와 750W 내부 열 부하 시 온도 성능을 별도로 명시합니다.
Temperature Performance
| Test Condition | Temperature Fluctuation | Uniformity | Temperature Deviation |
|---|---|---|---|
| No Load, 40–85°C | ≤0.5°C | ≤1.5°C | ≤±1.0°C |
| 750 W DUT 부하, 40–85°C | ≤0.8°C | ≤2.0°C | ≤2.0°C |
이 차이는 전원 켜기 번인 테스트에서 챔버를 비교할 때 특히 중요합니다. 비어 있을 때 성능이 좋은 챔버가 여러 작동 제품이 작업실에 열을 방출하기 시작하면 다르게 동작할 수 있습니다.
Key Features
| Feature | Engineering Value |
|---|---|
| 최대 750W DUT 열 부하 | 작동 시료가 챔버 내에서 지속적으로 열을 발생시키는 노화 시험용으로 설계되었습니다. |
| 1400 / 2520 L Workspace | 여러 개의 DUT, 시료 선반, 생산 지향 번인 배치를 위한 공간을 제공합니다. |
| RT+10°C to 150°C | 고온 노화, 번인 및 열 내구성 응용 분야를 다룹니다. |
| ≥5°C/min Heat-Up | 지정된 무부하 테스트 조건에서 효율적으로 80°C에 도달합니다. |
| 강제 공기 순환 | 여러 시료 주변의 공기 흐름을 촉진하고 일관된 챔버 온도 분포를 지원합니다. |
| 탑 배기 설계 | 필요한 시험 구성에 따라 챔버 공기의 배기 경로를 제공합니다. |
| 0.1°C 설정 해상도 | 모두ows 요구되는 온도 설정값을 정밀하게 조정합니다. |
| Three-Phase Power Supply | AC 380 V, 50 Hz 산업용 전력 구성을 기반으로 설계되었습니다. |
기술 사양
DHG 시리즈 고온 에이징 챔버
| Parameter | DHG-1400L | DHG-2520L |
|---|---|---|
| Chamber Capacity | 1400 L | 2520 L |
| Internal Dimensions (W × H × D) | 1400 × 1580 × 600 mm | 2000 × 1800 × 700 mm |
| External Dimensions (W × H × D) | 2300 × 2100 × 910 mm | 2500 × 2300 × 1050 mm |
| 온도 범위 | RT+10°C to 150°C | RT+10°C to 150°C |
| Setting Resolution | 0.1°C | 0.1°C |
| Heat-Up Rate | ≥5°C/min에서 80°C* | ≥5°C/min에서 80°C* |
| DUT Heat Load | 최대 750 W | 최대 750 W |
| Operating Ambient Temperature | 5–35°C | 5–35°C |
| Operating Ambient Humidity | 10–85% RH | 10–85% RH |
| Power Supply | AC 380 V, 50 Hz, 3상 | AC 380 V, 50 Hz, 3상 |
*가열 성능은 정의된 무부하 조건 하에서 RT+10°C에서 80°C까지 지정되며, 비선형 온도 상승을 따릅니다.
Temperature Control Performance
| Condition | Fluctuation | Uniformity | Deviation |
|---|---|---|---|
| No load, 40–85°C | ≤0.5°C | ≤1.5°C | ≤±1.0°C |
| 750 W 부하, 40–85°C | ≤0.8°C | ≤2.0°C | ≤2.0°C |
DUT 열 부하가 더 높거나 다른 챔버 배치가 있나요? 챔버를 선택하기 전에 DUT 수량, 개별 전력 소비량, 랙 배치를 보내주세요.
High-Temperature Aginging Applications
DHG 시리즈는 주로 고온에 장시간 노출되어야 하는 전자 및 전기 제품에 적합하며, 특히 여러 시료를 동시에 시험하거나 시험 중에 전원이
공급되는 경우에 적합합니다.
Powered DUT 번인 테스트
번인 테스트는 단순히 전원이 공급되지 않은 시료를 뜨거운 챔버에 넣는 것과는 다릅니다.
전자 제품이 전기가 계속 공급되는 경우, 챔버는 전기 연결, 물리적 랙 배치, 그리고 작동 중인 DUT에서 발생하는 열을 수용해야 합니다. 다중 제품 검사에서는 이 요소들을 독립적으로 고려하기보다는 함께 고려해야 합니다.
일반적인 구성은 다음과 같을 수 있습니다:
다단계 시료 racks
Powered DUTs
케이블 라우팅 / 패스스루 포트
시료 주변의 정의된 공기 흐름
독립 과열 보호
DHG-1400L 또는 DHG-2520L?
더 큰 챔버가 자동으로 더 나은 선택은 아닙니다. 용량은 실제 DUT 배치와 시험 배치당 필요한 시료 수를 기준으로 선택되어야 합니다.
DHG-1400L
1400 L Workspace
내부 치수:
1400 × 1580 × 600 mm
실용적인 출발점:
- 전원 공급 장치 및 어댑터
- PCB 어셈블리
- 중형 전자 제품
- Multi-specimen burn-in
- Moderate rack configurations
DHG-2520L
2520 L Workspace
Internal dimensions:
2000 × 1800 × 700 mm
애플리케이션이 요구할 때 더 적합합니다:
- Larger DUTs
- 배치당 더 많은 표본
- 더 큰 다층 랙 시스템
- 더 큰 내부 작업 공간
- Production-oriented aginging capacity
챔버 볼륨만 선택하지 마세요. DUT 크기, 양, 간격, 랙 배치, 총 열 방출 등이 모두 사용 가능한 시험 용량에 영향을 미칩니다.
테스트 주위에 챔버를 구성하세요
대용량 번인 시스템은 기존 고온 오븐보다 더 많은 응용 정보가 필요합니다.
DHG 구성을 선택하기 전에 다음을 결정하세요:
무엇을 테스트하고 있나요?
↓
각 DUT의 크기는 얼마나 되나요?
↓
배치당 DUT는 몇 개인가요?
↓
DUT가 전원이 공급될까요?
↓
얼마나 많은 열을 발생시키나요?
↓
필요한 온도는 얼마인가요?
↓
테스트는 얼마나 걸리나요?
↓
전원과 신호 케이블은 어떻게 챔버로 들어올까요?
이 답변들은 단순히 챔버 부피 이상의 것을 결정합니다.
사용 가능한 번인 시스템 구성
챔버는 DUT와 번인 테스트의 전기 요구사항에 맞게 구성할 수 있습니다.
Multi-Level DUT Racks
내부 랙 배치는 여러 시료와 다양한 제품 치수에 맞게 구성할 수 있습니다.
DUT 전원 및 케이블 라우팅
필요에 따라 외부 전원, 신호 또는 모니터링 연결을 위한 패스스루 배치를 포함할 수 있습니다.
과열 보호
독립적인 보호는 비정상적인 챔버 온도 조건에 대응하고 테스트 장비를 보호하도록 구성할 수 있습니다.
Ventilation Configuration
공기 흡입 및 상단 배기 배열은 필요한 챔버와 DUT 구성에 맞게 조정할 수 있습니다.
최종 구성은 실제 시험의 DUT, 전기 부하 및 안전 요구사항에 따라 확인해야 합니다.
Send Your burn-In Requirement
고온 노화 챔버를 선택하는 것은 온도 범위와 챔버 부피를 지정하는 것 이상이 필요합니다.
정확한 DHG 구성을 원하시면 엔지니어링 팀에 연락해 주세요:
DUT name / application
DUT dimensions — W × H × D
배치당 수량
전력 소비 per DUT
총 추정 DUT 열 부하
테스트 중 전원이 공급되거나 비활성화<br data-start="13046" data-end="13049">목표 온도
Test duration
Rack Arrangement
케이블 / test-port 요구사항
로컬 전원 공급
DHG-1400L 또는 DHG-2520L이 더 적합한 시작 구성을 결정하고, 테스트에 필요한 랙, 전기적 또는 안전 요구사항을 확인할 수 있습니다.
노화 챔버와 번인 챔버의 차이점은 무엇인가요?
고온 숙성 챔버는 제품을 일정 기간 고온에 노출시킵니다. 번인 적용에서는 전자 DUT가 시험 중에도 전원을 유지할 수 있어 추가적인 열, 전기 연결 및 안전 문제를 초래합니다.
DHG 시리즈가 전원 전자기기를 테스트할 수 있나요?
DHG 시리즈는 전원 DUT가 포함된 응용 분야를 위해 설계되었으며, 내부 열 부하가 최대 <강한 데이터-시작="12038" 데이터-엔드="12047">750W)까지 온도 성능을 명시합니다. 구성 전에 실제 DUT 양과 총 열 방출량을 확인해야 합니다.
1400 L과 2520 L 중에서 어떻게 선택해야 하나요?
DUT 치수, 배치별 수량, 랙 레이아웃부터 시작합니다. 그 다음 시료 간격, 케이블 배선, 총 열 부하를 고려하세요. 명목상 챔버 부피만으로는 사용 가능한 번인 용량을 결정하지 않습니다.
랙과 전기 연결을 맞춤 설정할 수 있나요?
Yes. 랙 구성, 케이블 라우팅, 패스스루 요구사항 및 관련 테스트 배치는 애플리케이션에 따라 구성할 수 있습니다.
