RS-V 전자기 진동 테스트 시스템은 가전 제품, 전자 부품, 자동차 부품, 휴대용 장치, 저장 장비, 커넥터 등을 포함한 다양한 제품에 대한 스크리닝 테스트를 수행하는 데 이상적인 솔루션입니다.
국제 표준을 준수하도록 설계된 RS-V 전자기 진동 테스트 시스템은 MIL, ASTM, IEC, ISO, BS, JIS 및 기타 글로벌 테스트 기준과 같은 엄격한 군사 사양을 충족합니다.
대구경 무빙 코일과 고강도 가이드가 장착된 이 시스템은 뛰어난 진동 전달 속도를 제공합니다. 광범위한 시편을 수용할 수 있도록 다양한 추가 테이블로 구성할 수 있어 정확하고 신뢰할 수 있는 시험 결과를 보장할 수 있습니다.
RS-V 전자기 진동 테스트 시스템은 특히 다재다능하여 운송 진동 시뮬레이션, 복합 진동-기후 테스트 및 지진 시뮬레이션 테스트를 포함한 소형 구성 요소의 테스트 요구 사항을 효과적으로 충족합니다.
이 기계는 헤드폰, 휴대폰, 태블릿, 전자책, 전자 사전 등의 버튼을 테스트하는 데 적합합니다. 또한 전자 제품의 다양한 전도성 고무 버튼, 금속 파편 버튼, 원격 제어 버튼 등의 내충격성 및 수명을 테스트하는 데 적합합니다.
In addition to testing the adaptability and the characteristics of the product had been changed under the general conditions of temperature and humidity combination (High-low temperature & storage, temperature cycling, high temperature and high humidity or moisture condensation test) by simulatable products, low humidity and constant temperature-humidity test chamber can also test whether the crazing and breakage of the product would happen under the conditions of low temperature and low humidity, high temperature and low humidity, high temperature and high humidity, low temperature and high humidity. Further more, the static content in air under the low humidity condition is many time more than the general condition, and it is said that most damage of the electronic components is caused by static.
Meeting the requirements of international specification test (IEC, JIS. JB, MIL...) to ensure the consistency of international measurement programs (including testing procedures, conditions and methods) to avoid cognitive differences and reduces the measurement uncertainties.
가는곳마다 온도 시험 약실은 가는곳마다 온도에 있는 저장, 수송 및 사용 도중 물자의 전기 공학, 전자 제품, 성분 및 적응하는 시험에 적용.
주요 기능들
- 넓은 낙하 높이 범위:
- RS-315 : 300mm에서 1500mm
- RS-320 : 300mm에서 2000mm
- 고하중 용량: 최대 100kg을 지원하여 다양한 제품 크기와 무게에 적합합니다.
- 정확한 테스트: 낙하 각도 오류 ≤5°, 높이 표시 정확도 ≤설정값의 2%.
- 넓은 테스트 영역: 800×600×1000mm, 다양한 항목 수용.
- 내구성 & 신뢰성: 견고한 구조와 장기적인 운영 안정성.
- 다양한 응용 프로그램: 장난감, 전자 제품, 가구, 포장 등에 이상적입니다.
이중층 고온 및 저온 방폭 테스트 챔버 ITM-DEP-288L은 배터리, 배터리, 전자 제품 및 기타 제품, 부품 및 다양한 재료의 고온 및 저온 테스트를 위해 설계되었습니다. 이 장비는 온도 변화 조건에서 제품, 부품 및 재료의 품질 검사 및 신뢰성 테스트를 시뮬레이션할 수 있습니다
주로 플렉스 테스트를 위해 회로 기판[일반적으로 소프트웨어 회로 기판이라고 함]을 구부릴 수 있는 데 사용됩니다. 셀룰라 전화 PDA, 전자 사전, 휴대용 퍼스널 컴퓨터 및 다른 전자 제품 FPC 구부리기에 저항의 가동 가능한 널과 같은, 구부리는 생활 탐지 시험.
커넥터 삽입 및 추출 수명 시험기 RS-8115A-5L은 휴대폰, 태블릿, 전자 책, 전자 사전 등과 같은 가전 제품에 사용되는 다양한 커넥터에 대한 삽입 및 추출 수명 테스트를 수행하도록 설계되었습니다. 이러한 커넥터에는 충전 어댑터, 충전 케이블, 헤드폰 케이블, 데이터 케이블 및 기타 유형의 커넥터가 포함됩니다.
신청
샷 파우치 충격 시험기는 "9962 Kasumi 백 충격 방법"의 "GB/T1999 건축 안전 유리 재료 - 안전 유리 성능 사양 및 시험 방법"에 따라 설계되어 적층 유리 충격 시험 요구 사항의 건축 안전을 충족합니다.
테스트 표준
ANSIZ97.1, ISO/DIS125421~12543-6:1997, AS/NZS2208:1996, GB/T9962-1999
